EBIC 控制放大器设备-简介

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·   型号：KDT-EBIC-AMP-2024

·   分辨率：10pA

·   带宽：≤100KHz

·   跨阻增益档位：1MΩ/10MΩ/100MΩ/200MΩ

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     EBIC（电子束感应电流）控制放大器设备是与扫描电子显微镜（SEM）配合使用的高精度测量系统，主要用于集成电路失效分析中的电流信号放大和成像。

     主要功能：扫描电子显微镜（SEM）、电流放大器、电真空馈通、控制与分析软件。

底噪测试

参数：输入悬空，跨阻增益 1M

高分辨率

EBIC技术可以提供高分辨率的失效点定位，有助于精确分析集成电路的失效原因

灵活性

EBIC技术可以与其他失效分析方法（如光学显微镜、曲线轨迹分析等）结合使用，提高分析的准确性和效率。

最大峰值输出

EBIC控制放大器优势：非破坏性，不会损坏集成电路的表面，可以保持样品的完整性

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紫外APD 探测器

紫外APD 探测器是一款可200-1000nm 内置雪崩高压和放大部分 放电检测器。具备200nm-1000nm的响应波长范围，-3dB带宽 优于10MHz，输出信号范围0- +3. 5VpP，输出信号噪声<10mVpp基底，结构紧促。

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光电二极管IV测试设备是用于精确测量光电二极管电流-电压（IV）特性的专业仪器，其通过施加电压并测量对应电流，绘制IV曲线以分析器件性能，是光电二极管研发、生产和质量控制中的关键工具。

20db增益射频放大器系列是一款理想的高速脉冲放大器。带宽DC-1.0GHz ，增益20dB，噪声优于5.0dB，阻抗50Ω特征阻抗匹配。双极性信号输出;

EBIC（电子束感生电流）探测增益控制设备是半导体材料与器件分析领域的关键工具，通过精确控制电子束与半导体相互作用产生的微弱电流信号，实现pn结定位、缺陷检测及载流子扩散长度测量等功能。

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